新聞動態 應用BLOG

邁向亞納米時代:Cobetter Sub 1nm PE濾芯提升光刻微污染控制

2024-07-12

在半導體精密製造中,光刻工藝無疑是決定工藝精度的關鍵,直接影響半導體器件的最終性能。隨著半導體器件的不斷微縮和新技術的應用,光刻工藝不斷挑戰物理極限,對微污染物更是零容忍。在此背景下,作為過濾技術領域的創新者,Cobetter持續研發攻堅,深耕光刻工藝的高精密過濾,致力於為客戶提供極致的產品。繼1nm PE濾芯取得優秀成績之後,Cobetter已推出的Sub 1nm PE產品也在客戶應用中獲得了優異的性能回饋。

Cobetter自主研發的PE濾膜採用拉伸工藝製造,通過精准控制拉伸過程,使高結晶度的濾膜得以完美成型。憑藉創新的技術工藝,Sub 1nm PE濾膜在製造過程中進一步縮小了膜孔尺寸,並優化了孔徑分佈,從而顯著提升了Sub 1nm PE濾膜的截留能力。實驗數據顯示,在苛刻的過濾條件下,Sub 1nm PE對2nm金顆粒的過濾效率比1nm PE濾膜高出約20%。

从1nm PE和Sub 1nm PE滤膜的电镜图中可以发现,Sub 1nm PE濾膜的孔径更小,且孔更致密地分布在膜表面。

Sub 1nm PE濾芯不僅在顆粒截留性能上得到了提升,還在潔淨度方面進行了優化。对于高精度过滤器,需要嚴格管控金属離子、有機物、顆粒溶出等多項指標。Cobetter通過先進的潔淨管控技術,嚴格管控微污染物,確保濾芯的高潔淨,可以有效減少客戶上機的沖洗時間。

Metal(μg/device)

NVR(μg/device)

Particle Shedding

@after 15min flush

<0.2@OK73

<0.25

<1@OK73/UPW@30nm up

<20@OK73/UPW@20nm up

潔淨管控技術和制膜工艺的提升,使得Cobetter的高精度过滤器能够显著提高客户产品的良率。目前sub 1nm PE过滤器已在國內外多家客戶端得到了驗證,並取得了優秀的結果。

Cobetter高潔淨度的 Sub 1nm PE 測試結果 

 

Customer A

Customer B

Customer C

Application

Solvent

Photoresist

Solvent

Result

>15nm WP<20 ea/wafer

Cone defect counts reduced 54%

Coating defect counts reduced 39% 

>19nm WP<10 ea/wafer


歡迎您的垂詢!
您可透過本網站「聯絡我們」頁面留下寶貴的資訊,或直接以電話或電子郵件與我們聯繫。我們將盡速回覆,提供您專業的解答與協助。
期待為您提供優質的服務。


還在尋找其他內容?
我們可以提供協助。
聯繫我們